SEQUENTIAL LIFE TESTING WITH AN UNDERLYING WEIBULL SAMPLING DISTRIBUTION

Auteurs-es

Daniel I. de Souza Jr

DOI :

https://doi.org/10.22409/engevista.v3i5.46

Résumé

SEQUENTIAL LIFE TESTING WITH AN UNDERLYING WEIBULL SAMPLING DISTRIBUTION

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Publié-e

2010-02-02

Numéro

Vol.3, No. 5 (1999)

Rubrique

Artigos